Корзина пуста
Каталог
Хиты продаж
Новинки
Акции
НовостиНабор "Определение ширины запрещенной зоны полупроводника"
Войдите в учётную запись, чтобы мы могли сообщить вам об ответе
Набор демонстрационный "Определение постоянной Планка" предназначен для определения длины волны излучения полупроводникового лазера и постоянной Планка.
Состав:
Платформа с полупроводниковым лазером и источником питания
Дифракционная решетка 150 штр./мм
Линейка с магнитами
Предлагаемые опыты:
Определение длины волны излучения полупроводникового лазера
Определение постоянной Планка
Набор состоит из платформы, на которой смонтированы полупроводниковый лазер и электрическая цепь, обеспечивающая плавную регулировку напряжения питания, дифракционной решетки и линейки, на которой производится регистрация дифракционного спектра. Платформа и линейка имеют магниты для закрепления их на вертикальной поверхности классной доски. Закрепление лазера и дифракционной решетки на платформе выполнено с использованием магнитов, что обеспечивает возможность настройки оптической схемы.
Состав:
Платформа с полупроводниковым лазером и источником питания
Дифракционная решетка 150 штр./мм
Линейка с магнитами
Предлагаемые опыты:
Определение длины волны излучения полупроводникового лазера
Определение постоянной Планка
Набор состоит из платформы, на которой смонтированы полупроводниковый лазер и электрическая цепь, обеспечивающая плавную регулировку напряжения питания, дифракционной решетки и линейки, на которой производится регистрация дифракционного спектра. Платформа и линейка имеют магниты для закрепления их на вертикальной поверхности классной доски. Закрепление лазера и дифракционной решетки на платформе выполнено с использованием магнитов, что обеспечивает возможность настройки оптической схемы.
Сообщения не найдены